Ich habe das
sechste Posting des Schnellkurses editiert (ab der gelben Markierung).
Grund: Es war vorher vielleicht nicht hinreichend klargestellt, dass die testweise Überbrückung der beiden Eingangs-MOSFETs nur dann erfolgen darf, wenn sichergestellt ist, dass an anderer Stelle kein Upper-MOSFET eines Schaltwandlers niederohmig defekt ist.
Wenn das zuvor nicht ausgeschlossen wurde, dann ist die Überbrückung der Eingangs-MOSFETs wirklich ausgesprochen gefährlich!
Was passiert überhaupt, bei einem niederohmig defekten "Upper" eines Schaltwandlers?
- Nun, ohne Schutzmechanismen würden dann 19V auf die jeweilige Niederspannungs-Rail geraten und schwerste, zumeist irreparable Schäden verursachen.
Es greifen jedoch zwei Schutzmechanismen:
1) Der Schaltwandler-IC wird versuchen, den unteren MOSFET maximal aufzusteuern, um die gefährliche Spannung nach Masse kurz zu schließen.
2) Der Ladecontroller wird den Überstrom detektieren und die beiden Eingangs-MOSFETs sperren.
In solchen Fällen hört man nicht selten ein leises "Ticken", so alle 1-3 Sekunden. Muss nicht so sein, ist es aber oft.
Grund: Weil durch die gesperrten Eingangs-MOSFETs kein Strom mehr fließt, wird der Ladecontroller die beiden MOSFETs nach kurzer Zeit "testweise" wieder durchsteuern. Dadurch schlägt der Kurzschluss wieder zu, woraufhin der Ladecontroller sofort wieder die Notbremse zieht. Immer und immer wieder.
Weil bei jedem kurzen Durchsteuern der Eingangs-MOSFETs heftiger Strom durch den niederohmig defekten Schaltwandler-"Upper" fließt, erhält die Schaltwandlerspule jedes Mal einen kurzen, harten Strompuls, was sich mit einem leisen "Ticken" bemerkbar macht.
Mit einem Oszi würde man in solchen Fällen hinter dem zweiten Eingangs-MOSFET zumeist Null Volt messen, mit periodischen, sehr schmalen Spannungspulsen von 19V (etwa alle 1-3 Sekunden).
Meine berühmten Indikatoren hingegen, machen das nicht unbedingt sichtbar, denn dazu sind die Strompulse zu schmal!
Ohne Oszi kann man dieses Verhalten daher leicht fehlinterpretieren, bzw. nicht bemerken. Dann schaut es per Multimeter oberflächlich so aus, als würden die beiden Eingangs-MOSFETs dauerhaft sperren. Ein fataler Irrtum, wenn man dann auf die Idee kommt, die beiden MOSFETs testweise mal zu überbrücken!
Denn damit hebelt man die Schutzfunktion des Ladecontrollers aus und zwingt die 19V auf die System-Rail, die alle Schaltwandler versorgt; also auch jenen Schaltwandler, dessen Upper-MOSFET niederohmig defekt ist.
Wenn es dann der untere Schaltwandler-MOSFET nicht schafft, den vollen Strom soweit nach Masse kurz zu schließen, dass die Ausgangsspannung hinter der Spule ungefährlich klein bleibt (und das wird er nicht schaffen!), dann steigt die Spannung hinter der Spule unweigerlich auf ein zerstörerisch hohes Maß an und richtet schwerste Schäden an!
Natürlich würde das Notebook-Netzteil seinerseits den Kurzschluss detektieren und abschalten. Aber leider viel zu spät!
Dessen interner Schutz ist nur darauf ausgelegt, im Kurzschlussfall das Abfackeln der Wohnung zu verhindern, aber nicht darauf, das Mainboard vor weiteren Schäden zu bewahren.
Bei defekten Schaltwandler-Uppern ist es eh schon ein Glücksfall, wenn die übrigen Schutzmechanismen das unzulässige Hochgehen der Ausgangsspannung unterbinden können. Das muss nicht unbedingt funktionieren!
Aber mit überbrückten Eingangs-MOSFETs ist es so wie mit einem Auto, dessen Bremsen bereits defekt sind und wo man nun auch noch das Gaspedal bewusst voll durch drückt!
Der Schnellkurs hatte das bisher nicht hinreichend deutlich gemacht, nun sollte es klarer sein.
Fazit:
Überlegt Euch dreimal, ob Ihr wirklich wisst, was Ihr tut, bevor Ihr die beiden Eingangs-MOSFETs testweise überbrückt!
Im Zweifelsfall lasst es lieber bleiben! Andernfalls könnt Ihr ein bloß leicht defektes Mainboard augenblicklich in einen Totalschaden verwandeln!